超大规模集成电路测试 豆 0.0分

资源最后更新于 2020-08-17 14:42:47

作者：布什内尔

出版社：第1版 (2005年8月1日)

出版日期：2005-01

ISBN：9787121014901

文件格式： pdf

标签： 集成电路 IC 测试 简体中文 中国 2005 1

简介· · · · · ·

《超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统》可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。